nanoscope analysis對于分析工程模型以及分析圖像具有專業(yè)的技術(shù)，可以將光學(xué)圖像AFM放到軟件上執(zhí)行數(shù)據(jù)研究，內(nèi)置十九種分析方案，包括二維分析、三維分析、粒子分析、有圖案的樣本分析、電化學(xué)SPM分析，可以幫助用戶在研究光學(xué)數(shù)據(jù)的時候提供更加清晰的數(shù)據(jù)分析方案；nanoscope analysis具有的分析模式非常多，支持不同地區(qū)的規(guī)范分析，可以基于時間分析、曲線和高水平分析，并且可以將圖形數(shù)據(jù)的結(jié)果保存為模型數(shù)據(jù)！

軟件功能

　　分析功能

　　分析函數(shù)關(guān)系到分析在實(shí)時模式中捕獲的圖像的表面行為。這些命令稱為圖像處理或分析命令。這些命令包含用于分析、修改和存儲收集到的數(shù)據(jù)的視圖、選項(xiàng)和配置。分析可以是自動化的(也可以是自動程序)或者手工完成。一般來說，分析命令提供了量化樣品表面特性的方法

　　二維圖像

　　二維圖像分析以二維的角度顯示所選圖像的顏色編碼高度信息。二維圖像分析是對納米范圍分析的默認(rèn)分析，當(dāng)圖像最初被打開時，它總是在二維圖像中呈現(xiàn)。

　　軸承的分析

　　軸承分析提供了一種繪制和分析樣品表面高度分布的方法。軸承分析可應(yīng)用于整個圖像，或?qū)D像的選定區(qū)域，使用橡膠帶箱。此外，選擇區(qū)域內(nèi)的區(qū)域可以通過使用“停止帶”來移除分析中的多余數(shù)據(jù)。

　　深度

　　為了分析特征的深度，你有眾多的選擇來測量不同高度的兩個主要特征之間的高度差。深度分析主要是為自動比較兩個相似的樣本站點(diǎn)的特征深度而設(shè)計(jì)的(例如，在分析大量相同硅晶片的腐蝕深度時)。

軟件特色

　　新!形象出口允許出口BMP圖像,TIFF,PNG和JPG或沒有規(guī)模和彩條和在給定dpi或與原像素。與“運(yùn)行歷史”讓許多文件被導(dǎo)出。

　　新!創(chuàng)建AVI電影使用圖像導(dǎo)出和運(yùn)行歷史

　　新!從力量近地天體顯微鏡對SIS文件的支持

　　新!平,Plane-fit閾值指標(biāo)

　　同步的游標(biāo)和分析:選擇多個渠道ctrl單擊選項(xiàng)卡。隨后的分析或游標(biāo)將被應(yīng)用到所有選定的渠道

　　顏色表編輯器:選擇命令>從菜單中調(diào)整圖像顏色范圍

　　額外的顯示器大小支持現(xiàn)在包括上網(wǎng)本、筆記本電腦、多個監(jiān)視器等。

安裝方法

　　1、下載NanoScope_Analysis_x86_v150r2sr4.exe軟件啟動，這里是軟件安裝數(shù)據(jù)加載的地方

　　2、進(jìn)入軟件的安裝界面以后點(diǎn)擊next繼續(xù)安裝

　　3、查看軟件的安裝協(xié)議，這里勾選I accept the terms in the License Agreement接受就可以了

　　4、設(shè)置軟件的安裝地址，可以默認(rèn)安裝在D:Program Files (x86)BrukerNanoScopeAnalysis

　　5、這里就是準(zhǔn)備安裝的提示界面了，點(diǎn)擊 install可以安裝

　　6、可以顯示安裝的進(jìn)度信息，請稍后

　　7、安裝的時候會出現(xiàn)腳本環(huán)境的測試，等待運(yùn)行結(jié)束

　　8、如圖所示nanoscope analysis已經(jīng)安裝完畢，可以點(diǎn)擊finish退出

使用方法

　　1、啟動軟件，提示一個啟動的界面，等待軟件數(shù)據(jù)加載完成就可以進(jìn)入分析界面

　　2、如圖所示，這里是nanoscope analysis的工作區(qū)域，可以點(diǎn)擊一個新的工作打開

　　3、點(diǎn)擊Open Workspace.打開工作空間，可以顯示工作文件

　　4、分析的時候可以選擇分析2D lmage，二維圖形、三維圖形、軸承的分析、功率譜密度

　　5、設(shè)置的功能，支持靈敏度設(shè)置、設(shè)置輸入偏移量、設(shè)置單位、更新敏感、調(diào)整圖像顏色范圍、過濾器曲線、回顧曲線

　　6、設(shè)置功能，包括總在最上面、自動擴(kuò)展數(shù)據(jù)、默認(rèn)顏色表、顯示零基礎(chǔ)范圍

新版特點(diǎn)

　　?注冊光學(xué)和AFM圖像

　　?導(dǎo)入并覆蓋多個光學(xué)和AFM圖像

　　?調(diào)整和調(diào)整光學(xué)和AFM圖像的注冊參數(shù)

　　?存儲和還原不同系統(tǒng)配置的配置文件(例如多目標(biāo)鏡頭)

　　?調(diào)整圖像顏色、透明度和覆蓋選項(xiàng)，分別針對每個通道

　　?出口覆蓋圖像

　　?將每個覆蓋層和相關(guān)的圖像參數(shù)保存在離線模式下進(jìn)行進(jìn)一步分析

　　?MIRO 2.0添加了多個感興趣的區(qū)域，使您可以更輕松地比較重疊映像